SNK粒子數(shù)測量技術(shù)分析

發(fā)布日期：2024-01-25      瀏覽次數(shù)：525

SNK粒子數(shù)測量技術(shù)分析

光學(xué)薄膜監(jiān)測技術(shù)是利用粒子可視化技術(shù)高速、實(shí)時(shí)測量粒子數(shù)量的技術(shù)。

[1] 使用粒子可視化系統(tǒng)

靜態(tài)計(jì)數(shù)法

使用圖像處理軟件包附帶的“ParticleEye"從粒子的可視化圖像中提取靜止圖像后，使用軟件包附帶的“ParticleEye SCF"對(duì)它們進(jìn)行計(jì)數(shù)。

動(dòng)態(tài)計(jì)數(shù)法

該方法使用可選軟件“ParticleEye DCF"在可視化現(xiàn)場進(jìn)行實(shí)時(shí)計(jì)數(shù)。您還可以在錄制可視化視頻時(shí)進(jìn)行計(jì)數(shù)。


ParticleEye DCF（視頻）

[2] 使用專門計(jì)數(shù)的系統(tǒng)

移動(dòng)可視化計(jì)數(shù)裝置“Type-S"

這是一種移動(dòng)式計(jì)數(shù)設(shè)備，易于現(xiàn)場使用，可讓您在查看手頭的監(jiān)視器的同時(shí)快速調(diào)查灰塵源和泄漏點(diǎn)。詳情請(qǐng)參閱Type-S 頁面。


S型

顆粒物產(chǎn)生量評(píng)價(jià)裝置“P-Wind®"

可以定量評(píng)估清潔環(huán)境中使用的產(chǎn)品的發(fā)塵量和生產(chǎn)設(shè)備的機(jī)械元件的異物泄漏情況。可以精確地檢測和計(jì)數(shù)整個(gè)數(shù)量，而不會(huì)遺漏哪怕是最少量的顆粒。這是一種有別于傳統(tǒng)吸力式計(jì)數(shù)器的新型計(jì)數(shù)評(píng)價(jià)裝置。詳情請(qǐng)參閱 P-Wind 頁面。


P-Wind（圖片）

[3]構(gòu)建新的計(jì)數(shù)系統(tǒng)

我們可以單獨(dú)承建應(yīng)用可視化技術(shù)的新型顆粒物檢測和計(jì)數(shù)系統(tǒng)。請(qǐng)隨時(shí)與我們聯(lián)系。
下圖是一個(gè)可以實(shí)時(shí)檢測液體中細(xì)小顆粒的系統(tǒng)示例。還可用于監(jiān)測化工管道等內(nèi)流動(dòng)的液體中的異物。


液體顆粒物監(jiān)測系統(tǒng)（圖）